SMKC: Methode erkennt Anomalien in Zeitreihen mit wechselnder Variablendichte
In vielen industriellen Überwachungssystemen ändern sich die gemessenen Sensoren ständig – neue Sensoren werden eingebaut, alte fallen aus oder werden umbenannt. Diese „Sensor‑Churn“-Phänomene führen zu Zeitreihen, dere…