IPEC: Neuer Testzeit-Ansatz verbessert Prototypen bei Few-Shot-Lernen
Metric-basierte Few-Shot-Methoden erfreuen sich großer Beliebtheit, weil sie leicht zu implementieren sind, gut interpretierbar bleiben und wenig Rechenleistung benötigen. Dennoch bleibt ein entscheidendes Problem bestehen: Während des Testens wird häufig die Annahme getroffen, dass die einzelnen Batches unabhängig voneinander sind. Dadurch kann das Modell keine wertvollen Erkenntnisse aus vorherigen Batches nutzen.
