Elektronenmikroskop: Schnelle Aberrationskorrektur via Bayesian Optimierung
Die hochauflösende, aberrationskorrigierte Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) erfordert heute eine rasche Abstimmung der multipolaren Probe-Korrektoren, während gleichzeitig die unvermeidliche Drift der optischen Kolumne kompensiert wird. Traditionelle, serielle, gradientsfreie Suchverfahren wie Nelder–Mead sind zwar automatisiert, aber sehr sampleineffizient und haben Schwierigkeiten, mehrere miteinander verknüpfte Parameter gleichzeitig zu korrigieren. Tiefe Lernmethoden bieten zwar Geschwindigkeit, sind jedoch oft zu starr, um sich ohne umfangreiches Retraining an unterschiedliche Probenbedingungen anzupassen.